Godefroy-Colburn T., Erny C., Schoumacher F., Berna A., Gagey -J. M., Stussi-Garaud C.
Plenum Press
|
Fritig B, Kauffmann S, Rouster J, Bumas B, Geoffroy P, Kopp M, Legrand M
Springer-Verlag
|
Linthorst M J H, Cornelissen C J B, van Kan L A J, van de Rhee M, Meuwissen J L R, Jean Gonzalez T M, Bol F J
Springer-Verlag
|
Boyer -C. J., Morch -D. M., Haenni -L. A.
Plenum Press
|
Bol F. J., van de Rhee D. M., van Kan L. A. J., Jaen Gonzalez T. M., Linthorst M. J. H.
Springer-Verlag
|
Tumer N., hemenway C., O'Connell K., Cuozzo M., Fang -X. R., Kaniewski W., Chua -H. N.
Plenum Press
|
Wilson A M T, Plaskitt A K, Watts W J, Osbourn K J, Watkins C A P
Springer-Verlag
|
Pivin C. J., Pons F., Bernas H.
Kluwer Academic Publishers
|
Dixon S. M., Zhang S., Yamamoto T. R., Lamb J. C., Lawton A. M.
Springer-Verlag
|
Lee, J.-Y., Wu, M.-X., Kao, C.-Y., Wu, T.-Y., Hsu, l-J.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Kayser P., Rodrigues M., Godefroy C. J.
Kluwer Academic Publishers
|
Sarngadharan G. M., Veronese diMarzo F., Gallo C. R.
Plenum Press
|
