Tyerman D. Stephen, Zhang H. W., Terry R. B.
Springer-Verlag
|
Wendt, C. W., Isbell, V. R., Stuart, B. L., Abernathy, J. R.
American Chemical Society
|
Tenhunen D. J., Reynolds F. J., Lange L. O., Dougherty L. R., Harley C. P., Kummerow J., Rambal S.
Kluwer Academic Publishers
|
Wandelt Ch., Knibb W., Schroeder E. H., Khan I. R. M., Spencer D., Craig S., Higgins V. J. T.
Plenum Press
|
Davies J. W., Trejo L. C., Palmer J. S.
Springer-Verlag
|
April, G. C., Avaramuthan, R., Chiang, V., Zargarian, K., Chen, W. Y., Westmoreland, R., Meraab, J.
American Institute of Chemical Engineers
|
Rosa da Costa A., Metcalfe J., Lodge A. T., Davies J. W.
Springer-Verlag
|
Davies J. W., Blackman G. P., Lodge R. T., Rosa da Costa A., Bmetcalfe J.
Springer-Verlag
|
Rickman W. R., Klepper B., Belford K. R.
Plenum Press
|
Garbe, C.S., Schurr, U., Jaehne, B.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
S. Hadjiloucas, L.S. Karatzas, D.A. Keating, M.J. Usher
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
|
Davies W. J., Covey N. S., Donson J., Hull R., Maule J. A., Stanley J., Townsend R., Woolston J. C.
Plenum Press
|
