McCarthy, J. E. G.
Springer-Verlag
|
Doheny M. K., Puziss J., Spencer F., Hieter P.
Springer-Verlag
|
Tuite F. M., Izgu F., Grant M. C., Crouzet M.
Springer-Verlag
|
Hinnebusch G. Alan, Abastado -P. J., Hannig M. E., Jackson M. B., Miller F. P., Ramirez M., Wek C. R., Williams P. N.
Springer-Verlag
|
Tuite F. Mick, Akhmaloka, Firoozan M., Duarte B. A. J., Grant M. C.
Springer-Verlag
|
Monod M., Haguenauer-Tsapis R., Silve S., Togni G., Hinnen A.
Springer-Verlag
|
Tuite, M. F.
Springer-Verlag
|
Schuitmaker,J.J., Best,J.A.van, Delft,J.L.van, Jannink,J.E., Oosterhuis,J.A., Vrensen,G.F.J.M., Wolff-Rouendaal,D.de, …
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
McCarthy G. E. John, Gerstel B., Hellmuth K., Lang V., Surin B., Ziemke P.
Springer-Verlag
|
Hechtberger, P., Zinser, E., Paltauf, F., Daum, G.
Springer-Verlag
|
Fido, M., Wagner, S., Mayr, H., Kohlwein S. D., Paltauf, F.
Springer-Verlag
|
Tuite, M. F.
Springer-Verlag
|