Hinnebusch G. Alan, Mueller P. Peter, Harashima Satoshi
Springer-Verlag
|
GISPEN H. W., DE GRAAN E. N. P., OESTREICHER B. A., SCHOTMAN P., SCHRAMA H. L., DE WIT M., SPRUIJT M. B.
Springer-Verlag
|
Kops,G.J.P.L., Burgering,B.M.T.
IOS Press
|
Kjeldgaard O. N., Baekgaard J. A., Yan Dai H., Etzerodt M., Jorgensen P., Lovmand S., Olsen S. H., Pedersen S. F.
Plenum Press
|
Hershey B. W. J., Duncan F. R., Milburn C. S., Pathak K. V., Choi Y. S., Kaufman J. R.
Plenum Press
|
Yart,A., Laffargue,M., Mayeux,P., Chretien,S., Peres,C., Tonks,N., Roche,S., Payrastre,B., Chap,H., Raynal,P.
IOS Press
|
Baglioni C., Maroney A.P., Simili M.
PLENUM PRESS
|
de Smit H. M., van Duin Jan
Springer-Verlag
|
Stehle H. J., Foulkes S. N., Rikkers M., pevet P., Sassone-Corsi P.
Plenum Press
|
Andrisani, O. M.
Skouteris G. George
|
Lanker S, Bushman L J, Hinnebusch G A, Trachsel H, Meuller P P
Springer-Verlag
|
Linxia Zhang, Ming Wu, Hyun Ju Cho, Christina Chan
American Institute of Chemical Engineers
|