Tobi C. Alex, Hermans M. E. A. Ge
D. Reidel Publishing Company
|
Le Fevre, O., Vettolani, G., Maccagni, D., Mancini, D., Mazure, A., Mellier, Y., Picat, J.P., Arnaboldi, M., Bardelli, …
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Janson H. Ben J., Blok P. J. Rob, Bos Ariejan, Scheelings Mies
D. Reidel Publishing Company
|
Linthorst M J H, Cornelissen C J B, van Kan L A J, van de Rhee M, Meuwissen J L R, Jean Gonzalez T M, Bol F J
Springer-Verlag
|
Glikson Y. A., Ballhaus G. C., Goleby R. B., Shaw D. R.
Kluwer Academic Publishers
|
Bol F. J., Cornelissen C. J. B., Huisman J. M., van Vloten-Doting L.
Plenum Press
|
Jansen A. G. F. J., Peerlings I. W. H., Van Hest M C. J., Meijr W. E., de Brabander-van den Berg M. M. E.
Kluwer Academic Publishers
|
Upton J. G. B., Blundell J. D.
D. Reidel
|
Demaiffe Daniel, Michot Jean
D. Reidel Publishing Company
|
Jansen E., Sjoholm J., Bleil U., Erichsen J. A.
Kluwer
|
van Essen, G., Masseling, B. H. C. J., Jansen, M.
ESA Publications Division
|
Schon, J. C., Jansen, M.
Materials Research Society
|