Kishida, M. (Japan), Onoue, K. (Japan), Tashiro, S. (Japan), Nagata, H. (Japan), Wakabayashi, K. (Japan)
Elsevier
|
Nohman, A. K. H., Duprez, D., Kappenstein, C., Mansour, S. A. A., Zaki, M. I.
Elsevier
|
Agrell, J., Hasselbo, K., Jaras, S., Boutonnet, M.
Elsevier
|
A. Ishihara, N. Sato, S. Hayashi, T. Itoh, T. Hashimoto, H. Nasu
American Chemical Society
|
S. Kato, T. Yoshizawa, K. Yokoyama, K. Kosagawa, M. Ogasawara, S. Nakata, T. Wakabayashi, Y. Nakahara
Elsevier
|
Bankmann, M., Brand, R., Freund, A., Tacke, T.
Elsevier
|
K. Kinoshita, T. Yoda, S. Kishida
Materials Research Society
|
T. Hayashi, M. Saito, K. Fujihara, J. Jou
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
|
VANNICE, M. A., CHAO, Y. -L.
American Institute of Chemical Engineers
|
Hanaoka, T., Fujimoto, S., Yoshida, T., Kamei, K., Harada, M., Suzuki, Y., Yokoyama, S., Minowa, T.
Elsevier
|
Mizukami, F., Maeda, K., Watanabe, M., Masuda, K., Sano, T., Kuno, K.
Elsevier
|
Kawabata,K., Wakabayashi,S., Akiyama,T., Fujisada,H., Kato,M.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|