Jennings R., Ni challanain D., Ghazi O. H., McLean S. C.
Plenum Press
|
Zigterman J. W. J. G., Verheul M. F. A., Snippe H.
Plenum Press
|
Byars E. N., Nakano G., Welch M., Allison C. A.
Plenum Press
|
Harvinder S. Gill, Fu-Shi Quan, Sang-Moo Kang, Richard W. Compans
American Institute of Chemical Engineers
|
Berencsi, G., Gyarmati, P., Szomor, K.N., Jankovics, I., Csohan, A.
IOS Press
|
Cooper D. P.
Plenum Press
|
Hsu -H. K., Lubeck M., Mizutani S., Natuk R., Chengalvala M., Chanda P., Bhat R., Bhat B., Mason B., Selling B., Kostek …
Plenum Press
|
Goldberg, K. A., Naulleau, P. P., Rekawa, S. B., Denham, P. E., Liddle, J. A., Gullikson, E. M., Jackson, K. H., …
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Byars E. N., Nakano M. G., Welch M., Allison C. A.
Plenum Press
|
D'Odorico, S., Andersen, M. I., Conconi, P., Caprio, V. De, Delabre, B., Marcantonio, P. Di, Dekker, H., Downing, M. D., …
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Graham, R.R., Botros, B., Esmat, H.M., Ezz, W.N., Salmon, D.E., Fayaz, C., Oun, E.S., Rakha, M., Fahmy, D., Lewis, S., …
IOS Press
|
Skea L. D., Barber H. B.
Plenum Press
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