Regelman, D. F., Alberino, L. M., Lockwood, R. J.
American Chemical Society
|
K. WHITE, A.M. TUTHILL, L. FURMAN
Springer
|
Lockwood, R. J., Alberino, L. M.
American Chemical Society
|
Cahill, T. A., Ashbaugh, L. L., Eldred, R. A., Feeney, P. J., Kusko, B. H., Flocchini, R. G.
American Chemical Society
|
Braverman, M. P., Kunkel, D.L., Baron, J. J., Holm, R. H.
American Chemical Society
|
Gutierrez, S. C., Haught, R. C., Lytle, D. A., Rice, E. W., Williams, M. M.
Springer
|
Spalding F. R., Exner E. M.
Bogardi Istvan, Kuzelka D.Robert, Ennenga G. Wilma
|
Steinheimer, T. R., Pfeiffer, R. L., Scoggin, K. D., Battaglin, W. A.
American Chemical Society
|
Mauro M. J., Golden P. J., Anderson P. G., Ogert A. R., Wijesuriya D., Shriver-Lake C. L., Ligler S. F.
Kluwer Academic Publishers
|
J. L. Burbank, W. T. Kasch, J. Andrusenko, B. K. Haberman, R. Nichols, H. Zheng
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Cross, M. M., Kaye, A., Stanford, J. L., Stepto, R. F. T.
American Chemical Society
|
van Dam R. L, Harrison J. B. J, Rittel C. L, Hendrickx J. M, Borchers B.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|