Etges R., Bouvier J., Bordier C.
Springer-Verlag
|
Bordier C., Etges R., Bouvier J., Ward J., Turner J. M., Cardoso de Almeida L. M.
Springer-Verlag
|
Chaudhuri G., Chang -P. K.
Springer-Verlag
|
Carter C. K., Baillie J. A., Alexander J., Dolan F. T.
Plenum Press
|
McMahon-Pratt D., Jaffe L. C., Kahl L., Langer P., Lohman K., Pan A., Rivas L.
Springer-Verlag
|
Rivier D., Didisheim S., Etges R., Bordier C., Mauel J.
Plenum Press
|
Etges R., Bouvier J., Bordier C.
Plenum Press
|
Goad J. L., Keithly S. J., Berman D. J., Beach H. D., Holz G. G.
Plenum Press
|
Tetley L., hunter A. C., Coombs H. C., Vickerman K.
Plenum Press
|
Dickson, E.F., Goyan, R.L., Kennedy, J.C., Mackay, M., Mendes, M.A.K., Pottier, R.H.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Smith F. D., Ready D. P., Coulson R. M. R., Searle S., Campos R. J. A.
Plenum Press
|
Ziolkowski,P.P., Symonowicz,K., Milach,J.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|