Deusser, L. M., Gaube, J. W., Martin, F.- G., Hibst, H.
Elsevier
|
Connerton, J., Joyner, R. W.
Elsevier
|
Stein, B., Weimer, C., Gaube, J.
Elsevier
|
Oelker, P., Cadus, L., Froget, D., Daza, L., Papadopoulou, C., Llambias, F. Gil, Naud, J., Ruiz, P., Delmon, B.
Elsevier
|
Dikj, H. A. J. van, Hoebink, J. H. B. J., Schouten, J. C.
Elsevier
|
Huang, C. -J., Guo, W., Yi, X. -D., Weng, W. -Z., Wan, H. -L.
Elsevier
|
Hoebink, J.H.B.J., Schouten, J.C., Dijk, H.A.J. van
American Institute of Chemical Engineers
|
Wachs, I. E., Deo, G., Juskelis, M. V., Weckhuysen, B. M.
Elsevier
|
Alyea, E. C., Moravek, V.
Elsevier
|
Yang, Y., Lee, J.Y., Miller, P., Li, L., Kumar, J., Tripathy, S.K., Matsuda, H., Okada, S., Nakanishi, H.
Materials Research Society
|
Yi, X. -D., Weng, W. -Z., Huang, C. -J., He, Y. -M., Guo, W., Wan, H. -L.
Elsevier
|
Lemos F., Lemos A. D. N. A. M., Silva S. I., Costa C., Marques M. M.
Kluwer
|