Sweeley, C. C., Fung, Y.-K., Macher, B. A., Moskal, J. R., Nunez, H. A.
American Chemical Society
|
M. C. Fischer, H. Liu, I. R. Piletic, T. Ye, R. Yasuda, W. S. Warren
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Yavin E., Gil S., Guroff G., Hama T., Richter-Landsberg C.
Springer-Verlag
|
Ballou,B., Fisher,G.W., Deng,J.-S., Reiland,J.M., Hakala,T.R., Srivastava,M., Farkas,D.L.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Steiner, S., Via, D., Klinger, M., Larriba, G., Sramek, S., Laine, R.
American Chemical Society
|
Bradbury M.E., Barlati R., Hsie W.A., Nicolini C., paul J., Pardee B.A., Stein S.G., Wittelsberger S.
PLENUM PRESS
|
DUMONT E. J., VAN SANDE J., LAMY F., POCHET R., RODESCH F.
PLENUM PRESS
|
Hooykaas J. J. P., Melchers S. L., Rodenburg W. C., van Veen M. J. R.
Springer-Verlag
|
Berg K. D., Boyd T. R., Halvorsen W. S., Higgins S. L., Jacob H. M., Margiotta F. J., McEachern E. A.
Springer-Verlag
|
Morris, M.D., Stewart, S., Tarnowski, C.P., Shea, D.A., Franceschi, R., Wang, D., Ignelzi, M.A., Jr., Wang, W., Keller, …
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Bravo R., Bellatin J., Fey J. S., Larsen Mose P., Celis E. J.
Plenum Press
|
Warren, W. L., Lenahan, P. M., Brinker, C. J., Shaffer, G. R., Ashley, C. S., Reed, S. T.
Materials Research Society
|