|
Heumann R., Lindholm D., Bandtlow E. C., Meyer M., Radeke M., Misko T., Shooter E., Thoenen H.
Springer-Verlag
|
Srya K. S., Sarngadharan G. M.
Plenum Press
|
Nakagawa N., Nakagawa T., Volkman J. D., Goldstein H., Ambrus Jr. L. J., Fauci S.A.
Plenum Press
|
Defize K. H. L., Boonstra J., van Bergen en Henegouwen P. M. P., Verkley J. A., de Laat W. S.
Springer-Verlag
|
Resnicoff, M., Baserga, R.
Springer-Verlag
|
Chianelli M., Signore A., Ronga G., Pozzilli P., Fritzberg A., Mather J. S.
Plenum Press
|
Sean M. Anderson, Tom T. Chen, Maha Rahim, M. Luisa Iruela-Arispe, Tatiana Segura
American Institute of Chemical Engineers
|
Misko T., Radeke M., Shooter E.
Springer-Verlag
|
Fasolato C., Zottini M., Chiozzi P., Treves S., Villa A., Clementi E., Meldolesi J., Pozzan T.
Springer-Verlag
|
Bajaj M., Waterfield D. M., Blundell L. T.
Plenum Press
|
Hart K. I., Collarini J. E., Bolsover R. S., Raff C. M., Richardson D. W.
Springer-Verlag
|