Peters T., Taylor L. P., Eidne A. K.
Springer-Verlag
|
Barkas T., Mauron A., Roth B., Alliod C., Tzartos J. S., Ballivet M.
Springer-Verlag
|
Wright M., Gordeladze O. J., Hogset A., Alestrom P., Gautvik M. K.
Springer-Verlag
|
Graham L. T., Watrud S. L., Perlak J. F., Tran K. M., Lavrick B. P., Miller-Wideman A. M., Marrone G. P., Kaufman J. R.
Springer-Verlag
|
Civelli O., Bunzow J., van Tol H., Grandy D., Albert P., Salon J., Machida C., Neve K.
Springer-Verlag
|
Claudio T., Hartman S. D., Green N. W., Ross F. A., Paulson L. H., Hayden D.
Springer-Verlag
|
Kebabian, J. W., Beaulieu, M., Cote, T. E., Eskay, R. L., Frey, E. A., Goldman, M. E., Grewe, C. W., Munemura, M., …
American Chemical Society
|
Meriaudeau,F., Stubbs,L., Parks,J.,Jr., Jacobson,K., Goudonnet,J.-P., Ferrell,T.L.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Janssen, Y., Marsh, J., Quinlan, T., Timblin, C., BeruBe, K., Jimenez, L., Fung, H., Taishi, P., Zanella, C., Heintz, …
Springer-Verlag
|
Marshall J., David A. J., Darlison G. M., Barnard A. E., Sattelle B. D.
Springer-Verlag
|
Feistner J. G., Barofsky F. D., Evans J. C., Faull F. K., Roepstorff P.
Plenum Press
|
Kohn D. L., Akamizu T., Saji M., Ikuyama S., Bellur S., Tahara K.
Springer-Verlag
|
