Beck C., Werrbach-Perez K., Blum M., Hubner K., Perez-Polo R. J.
Springer-Verlag
|
Whittemore R. S., Persson H., Ebendal T., Larkfors L., Larhammar D., Ericsson A.
Springer-Verlag
|
Perez-Polo Regino J., Werrbach-Perez K.
Springer-Verlag
|
Hart K. I., Collarini J. E., Bolsover R. S., Raff C. M., Richardson D. W.
Springer-Verlag
|
Saneto P. R., Altman A., Knobler L. R., de Vellis J.
Springer-Verlag
|
Martin, W.N., Ghoshal, A., Sundaresan, M.J., Lebby, G.L., Schulz, M.J., Pratap, P.R.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
|
Moolenaar H. W., Defize K. H. L., Tilly C. B., Bierman J. A., de Laat W. S.
Plenum Press
|
North,J.R., Boch,R., Hunt,D.W.C., Ratkay,L.G., Simkin,G.O., Tao,J.-S., Richter,A.M., Levy,J.G.
SPIE - The International Society for Optical Engineering
|
Heumann R., Lindholm D., Bandtlow E. C., Meyer M., Radeke M., Misko T., Shooter E., Thoenen H.
Springer-Verlag
|
Lindsay M. R., Peters C.
Plenum Press
|
Loenen M. A. W., de Jong R., Gravestein A. L., van Lier W. A. R., Borst J.
Springer-Verlag
|
Xiao Huang, Bishwa R. Nayak, Tao Lowe
American Institute of Chemical Engineers
|