Beyschlag W., Lange L. O., Tenhunen D. J.
Springer-Verlag
|
Correia O., Catarino F., Tenhunen D. J., Lange L. O.
Springer-Verlag
|
tenhunen D. J., Beyschlag W., Lange L. O., Harley C. P.
Springer-Verlag
|
Meister P. H., Caldwell M. M., Tenhunen D. J., Lange L. O.
Springer-Verlag
|
Lange L. O., Harley C. P., Beyschlag W., Tenhunen D. J.
Springer-Verlag
|
DePasquale, J.M., Virani, S.N., Schwartz, D.A., Cameron, R.A., Plucinsky, P.P., O'Dell, S.L., Minow, J.I., Blackwell, …
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Tenhunen D. J., Harley C. P., Beyschlag W., Lange L. O.
Springer-Verlag
|
Walthall, C.L., Dulaney, W.P., Anderson, M.C., Norman, J., Fang, H., Liang, S., Timlin, D.J., Pachepsky, Y.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Pereira S. J., Beyschlag G., Lange L. O., Beyschlag W., Tenhunen D. J.
Springer-Verlag
|
Zhao, C., Wang, J., Huang, W., Liu, L.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Tenhunen D. J., Reynolds F. J., Lange L. O., Dougherty L. R., Harley C. P., Kummerow J., Rambal S.
Kluwer Academic Publishers
|
G.M. Russwurm, J.W. Childers, E.L. Thompson, Jr.
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
|